000 00887nam a2200217 a 4500
999 _c6343
_d6343
001 C01519660c-9
003 OS
005 20170206160340.0
008 160404s2016 ck a gr 00010 spa d
020 _a9789587624717
040 _aCO-BoBLA
_bspa
_cCO-BoBLA
082 0 4 _a621.381 R330l
_bL11a
_221
245 0 0 _aLaboratorio de circuitos electrónicos I /
_cNicolás Reyes Ayala, Raymundo Barrales Guadarrama, Ernesto Rodrigo Vásquez Cerón [y otros].
260 _aBogotá :
_bLimusa :
_bUniversidad Autónoma Metropolitana. Unidad Azcapotzalco,
_c2016.
300 _a144 páginas :
_bilustraciones ;
_c24 cm.
490 1 _aIngeniería electrónica
501 _aRepaso de manejo del equipo de pruebas eléctricas.--Caracterización de diodo.--Circuitos con diodos.--Fuentes de alimentación.--Caracterización del BJT.--Circuitos de polarización para el BJT.--amplificadorers con BJT.--Caracterización de polarización para el MOSFET.--Circuitos de polarización para el MOSEFET.--Amplificadores con MOSFET.--
504 _aIncluye bibliografía.
650 4 _aElectrónica.
_9326
650 4 _aAnálisis de circuitos electrónicos.
_9327
650 4 _aCircuitos electrónicos
_v Problemas, ejercicios, etc.
_9245
650 4 _aLaboratorios de circuítos electrónicos.
_9328
942 _2ddc
_cBK
_h621.381 R330l
949 _an
_bn